云紋干涉載頻調(diào)制技術(shù)及分析

在物體變形場的測量中,云紋干涉的載頻調(diào)制技術(shù)有重要作用.在云紋干涉中,對稱光照明產(chǎn)生的衍射光沿試件柵表面的法線傳播并產(chǎn)生干涉.通過改變照明光的入射角度,可實(shí)現(xiàn)變形條紋場的空間調(diào)制.通過光程差的分析說明了載波條紋產(chǎn)生的機(jī)理,得出了載波頻率與照明光入射角度變化之間的關(guān)系式.利用三點(diǎn)彎曲加載結(jié)合二維載頻調(diào)制實(shí)驗(yàn),給出了實(shí)驗(yàn)結(jié)果.證明了在初始條紋較少的情況下,載頻調(diào)制技術(shù)能有效地測量物體的位移場.

作 者： 孫平 SUN Ping   作者單位： 山東師范大學(xué),物理與電子科學(xué)學(xué)院,濟(jì)南,250014  刊 名： 光子學(xué)報(bào)  ISTIC PKU 英文刊名： ACTA PHOTONICA SINICA  年，卷(期)： 2007 36(8)  分類號(hào)： O348  關(guān)鍵詞： 物理光學(xué)   云紋干涉   調(diào)制   載波  

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