自拍外差混合光子相關譜與微粒粒徑測量

對實際微粒體系的自拍與外差混合的光子相關譜(PCS)進行了理論分析與模擬計算,結果表明用純自拍或純外差算法反演自拍與外差混合的PCS時得到的微粒粒徑相對誤差可迭100%.提出了一種從混合PCS反演微粒粒徑的方法.搭建了一套能夠產生混合PCS的模擬實驗裝置.用其分別對含有標稱粒徑為60nm和200hm的標準聚苯乙烯乳膠球微粒體系進行了測量.實驗結果表明,用本丈提出的方法反演混合PCS得到的微粒粒徑與標稱值的相對誤差均在5%以內.

作 者： 王少清 婁本濁 張軍 金衛(wèi)東 WANG Shao-qing LOU Ben-zhuo ZHANG Jun JIN Wei-dong   作者單位： 濟南大學,理學院,濟南,250022  刊 名： 光電工程  ISTIC PKU 英文刊名： OPTO-ELECTRONIC ENGINEERING  年，卷(期)： 2008 35(3)  分類號： O432.2  關鍵詞： 動態(tài)光散射   顆粒粒度測量   光子相關譜   PCS  

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