用兩個次序統計量確定Weibull分布形狀參數的置信下限

從兩個次序統計量出發,給出了二參數Weibull分布的形狀參數的置信下限.在實際數據的缺失、刪失、截尾等情況下,為可靠性試驗的數據處理提供了一種有效的估計方法.

作 者： 劉玉霜 LIU Yu-shuang   作者單位： 青島科技大學,青島,266061  刊 名： 科學技術與工程  ISTIC 英文刊名： SCIENCE TECHNOLOGY AND ENGINEERING  年，卷(期)： 2009 9(20)  分類號： O213.2  關鍵詞： 兩參數Weibull分布   次序統計量   參數估計  

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