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透鏡補償檢驗的研究與分析
為了方便透鏡補償器的設計,從三級像差理論出發(fā),推導出了求解透鏡補償檢驗二次曲面的初始結(jié)構(gòu)參量之間關系的數(shù)學表達式.通過分析發(fā)現(xiàn)這些公式不僅包括了前人提出的補償檢驗二次曲面的方法,也包括了以前沒有提出過的方法.這些透鏡補償器既可以檢驗二次曲面,又可以檢驗高次曲面.用所提出的方法設計了一套補償器,結(jié)果顯示,當軸上波差1/108個波長,軸外波差1/13個波長時,該補償器完全能夠應用于實際中.
王鵬,WANG Peng(中科院上海技術物理研究所,上海,200083)
刊 名: 光子學報 ISTIC PKU 英文刊名: ACTA PHOTONICA SINICA 年,卷(期): 2007 36(11) 分類號: O435.2 關鍵詞: 三級像差理論 補償檢驗 二次曲面【透鏡補償檢驗的研究與分析】相關文章:
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